![]() |
Ядерна фізика та енергетика
ISSN:
1818-331X (Print), 2074-0565 (Online) |
Home page | About |
Yield of near zero energy electrons from radioactive sources of different thickness
V. T. Kupryashkin, L. P. Sidorenko, A. I. Feoktistov, I. P. Shapovalova
Institute for Nuclear Research of the National Academy of Sciences of Ukraine, Kyiv, UkraineAbstract: For the purpose of study the near zero energy electron e0 yield dependence on source thickness for different modes of radioactive decay (β-decay, electron capture, internal conversion) of 152Eu isotope was investigated by (eγ)-coincidence method. It was shown that surface layer of radioactive atoms takes main part in e0-electron formation. The nature of this fenomen is discussed.
References:1. Freedman M. S., Porter F. T., Wagner F. J., Day P. P. Phys. Rev. 108 (1957) 836. https://doi.org/10.1103/PhysRev.108.836
2. Купряшкин В. Т., Митрохович Н. Ф., Сидоренко Л. П. и др. Исследование электронов околонулевой энергии в различных видах радиоактивного распада. Изв. РАН. Сер. физ. 62 (1998) 82.
3. Купряшкин В. Т., Сидоренко Л. П., Феоктистов А. И., Шаповалова И. П. Электроны околонулевой энергии в радиоактивном распаде. Изв. РАН. Сер. физ. 63 (1999) 159.
4. Бронштейн И. М., Фрайман Б. С. Вторичная электронная эмиссия (Москва: Наука, 1969).